3.3. Optický
spektrometr
Nejdůležitější část každého přístroje – rozkládá vstupující charakteristické záření na jednotlivé spektrální čáry. Optickou část tvoří budící zařízení (elektrický výboj, nebo plazma), vstupní štěrbina, difrakční mřížka, výstupní štěrbina a detektory záření.
vzduchový, nebo proplachovaný plynem
v jednom časovém období se měří pouze
intenzita jednoho stanovovaného prvku
při analyzování více prvků se postupně nastavuje
poloha difrakční mřížky, nebo poloha výstupní štěrbiny s fotonásobičem
pomalejší, než simultánní
výhoda,- možnost kdykoliv si vybrat spektrální
čáru z pracovní oblasti spektrometru i možnost měřit pozadí v okolí
spektrální čáry a tím zlepšit limit detekce (zdlouhavé)
jsou vybaveny plazmovým buzením a nahrazují tak AAS (atomové absorpční spektrometry)
cena činí 50% ceny simultánního spektrometru
vakuovaný, nebo vakuovaný
měření intenzit těch prvků, na jejichž
spektrální čáry jsou nastaveny spektrální štěrbiny a fotonásobiče
(až 80 spektrálních čar)
po ukončení expozice se vyhodnocují pouze kanály
(prvky) obsažené ve zvoleném analytickém programu (např. bronzy, Al-slit., Mg.-slit.)
uspořádání všech optických prvků na Rowlandově kružnici o různém průměru (0.5, 0.75, 0.1, 1.5)
– tzv. Paschen-Rungeho uspořádání, snížen
vliv teploty na citlivou optickou část
rychlé a přesné
poměrně nákladné
pro měření intenzit spektrálních čar o vlnových
délkách pod 210 nm (např. P, S, B, As, C, Sn) je
nutno používat vakuovaných, nebo proplachovaných (Ar) spektrometrů
obsahují alespoň jeden simultánní a jeden
sekvenční spektrometr (někteří výrobci mohou použít až 5 spektrometrů
v kombinaci 1 sekvenční + 1 vakuovaný simultánní + 3 nevakuovaný simultánní
spektrometry
možnost analýzy kterékoliv spektrální čáry na
sekvenčním spektrometru, které by nebylo možno z mechanického hlediska
nainstalovat (jsou velmi blízko sebe – každý optický systém obsahuje jednu čáru
cena kombinovaného přístroje nejvyšší
Světlo vstupuje
přes vstupní čočku (odděluje vakuovanou část spektrometru od okolní atmosféry)
na vstupní štěrbinu. Její šířka se pohybuje 10-25 μm
a délka až
Ze vstupní
štěrbiny se šíří světlo jako z bodového zdroje a dopadá na difrakční
mřížku. Mřížka má rovnoměrně po celém povrchu vrypy (1800, 2400,
Na difrakční mřížce dochází na základě ohybu světla na štěrbině k difrakci příchozího světelného záření na jednotlivé spektrální čáry.
U simultánních spektrometrů jsou v místech, kam dopadá záření příslušných vlnových délek, umístěny výstupní štěrbiny. Jejich šířka se pohybuje od 25 až 150 μm a mohou být umístěny a seřízeny individuálně. Prostor mezi nimi je zatemněn (na fotonásobiče dopadá světlo z příslušné výstupní štěrbiny),- je tedy možnost přesného seřízení, ale může dojít k poruše zatemnění
,nebo mohou být vryty do kovového pásku, který je umístěn na výstupní ploše (Rowlandově kružnici), nemůže tedy dojít k propustnosti mezi jednotlivými výstupními štěrbinami, ale při instalaci dalšího prvku je nutno vyrobit drahý pásek. Není také možné nastavit jednotlivé výstupní štěrbiny a tím se snižuje citlivost.
V prostoru optického emisního spektrometru jsou za výstupními štěrbinami umístěny fotonásobiče, které tvoří převodník mezi světelným zářením a elektrickým signálem.
Parametry pro výběr fotonásobičů:
integrální citlivost – celková citlivost
v pracovní oblasti vlnových délek, je tedy charakterizována citlivostí pro
danou vlnovou délku. Nelze pokrýt celý rozsah vlnových délek (160-800nm), a
proto se používají 3 typy fotonásobičů –do 120nm,
210-600nm, nad 600nm.
spektrální citlivost
temný proud
maximální provozní napětí
Používají se polovodičové detektory – diodová pole, CCD, CID, které snímají celé spektrum najednou. Vyhodnocení spektra se tedy provádí najednou.
Výhody použití – získání informace o celkovém složení vzorku, úplnější než u simultánního spektrometru
Nevýhody použití – horší rozlišovací schopnost